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磁力探伤只能发现磁性金属表面和近表面的缺陷，而且对缺陷仅能做定量分析，对于缺陷的性质和深度也只能根据经验来估计。渗透检验渗透检验是利用某些液体的渗透性等物理特性来发现和显示缺陷的，包括着色检验和荧光探伤两种，可用来检查铁磁性和非铁磁性材料表面的缺陷。对焊接接头进行必要的检验是保证焊接质量的重要措施。因此，工件焊完后应根据产品技术要求对焊缝进行相应的检验，凡不符合技术要求所允许的缺陷，需及时进行返修。焊接质量的检验包括外观检查、无损探伤和机械性能试验三个方面。这三者是互相补充的，而以无损探伤为主。外观检查外观检查一般以肉眼观察为主，有时用5－20倍的放大镜进行观察。通过外观检查，可发现焊缝表面缺陷，如咬边、焊瘤、表面裂纹、气孔、夹渣及焊穿等。
焊缝的外形尺寸还可采用焊口检测器或样板进行测量。无损探伤隐藏在焊缝内部的夹渣、气孔、裂纹等缺陷的检验。目前使用普遍的是采用X射线检验，还有超声波探伤和磁力探伤。X射线检验是利用X射线对焊缝照相,根据底片影像来判断内部有无缺陷、缺陷多少和类型。再根据产品技术要求评定焊缝是否合格。超声波束由探头发出，传到金属中，当超声波束传到金属与空气界面时，它就折射而通过焊缝。如果焊缝中有缺陷，超声波束就反射到探头而被接受，这时荧光屏上就出现了反射波。根据这些反射波与正常波比较、鉴别，就可以确定缺陷的大小及位置。超声波探伤比X光照相简便得多，因而得到广泛应用。但超声波探伤往往只能凭操作经验作出判断，而且不能留下检验根据。
对于离焊缝表面不深的内部缺陷和表面极微小的裂纹，还可采用磁力探伤。水压试验和气压试验对于要求密封性的受压容器，须进行水压试验和（或）进行气压试验，以检查焊缝的密封性和承压能力。其方法是向容器内注入1.25－1.5倍工作压力的清水或等于工作压力的气体（多数用空气），停留一定的时间，然后观察容器内的压力下降情况，并在外部观察有无渗漏现象，根据这些可评定焊缝是否合格。焊接试板的机械性能试验无损探伤可以发现焊缝内在的缺陷，但不能说明焊缝热影响区的金属的机械性能如何，因此有时对焊接接头要作拉力、冲击、弯曲等试验。这些试验由试验板完成。所用试验板好与圆筒纵缝一起焊成，以保证施工条件一致。然后将试板进行机械性能试验。
实际生产中，一般只对新钢种的焊接接头进行这方面的试验。焊接检验尺主要有主尺、高度尺、咬边深度尺和多用尺四个零件组成，是一种焊接检验尺，用来检测焊件的各种坡口角度、高度、宽度、间隙和咬边深度。适用于锅炉、桥梁、造船、压力容器和油田管道的测检。也适用于测量焊接质量要求较高的零部件。采用不锈钢材料制造，结构合理、外型美观、使用方便、测量范围广。气孔：焊接时熔池中的气泡在凝固时未能逸出而残留下来所形成的空穴称为气孔。气孔有时以单个出现,有时以成堆的形式聚集在局部区域。如果检验区域足够照明的话,表面气孔通常可以用肉眼看到。焊瘤：焊瘤是焊缝中的液体金属流到加热不足未融化的母材上或从焊缝根部溢出,冷却后形成的未与母材融合的金属瘤。
咬边：咬边是焊接过程中电弧将焊缝边缘熔化后，没有得到填充金属的补充，在焊缝金属的焊趾区域或根部区域形成沟槽或凹陷。咬边可以是连续的，也可以是间断的。焊接裂纹：金属在焊接应力及其它致脆因素的共同作用下,焊接接头中局部地区金属原子结合力遭到破坏而形成的新界面所产生的缝隙,具有尖锐的缺口和长宽比大的特征,是焊接结构中危险的缺陷。表面裂纹可能是纵向、横向或星形的,出现在焊缝表面或焊趾端,或焊缝外侧电弧击伤的地方。电弧击伤：电弧击伤是由母材金属或焊缝非迅速加热,且随后熔敷金属的迅速冷却而引起,母材金属的融化和填充金属的堆积往往伴有电弧引起的电弧击伤。电弧击伤会引起极高的热量,在局部地区造成较高的硬度和裂纹。
如果在坡口外随意引弧,有可能形成弧坑而产生裂纹,又很容易被忽视、漏检,造成事故的发生。错边：由于两个焊件没有对正而造成板的中心线平行偏差称为错边。错边使结构的外形尺寸发生突变,造成形状的不连续,在错边处引起较强的应力集中和弯曲应力,明显降低焊接接头强度和韧性,在个别情况下,错边还会引起裂纹,导致结构的破坏。凹坑多是由于收弧焊条（焊丝）未作短时间停留造成的（此时的凹坑成为弧坑），仰、立、横焊时，常在焊缝背面根部产生内凹。凹坑减小了焊缝的有效截面积，弧坑常带有弧坑裂纹和弧坑缩孔。单面焊时由于输入热量过大，熔化金属过多而使液态金属向焊缝背面塌落，形成后焊缝背面突起，正面下塌。将被检容器(工件)表面浸、涂、喷具有高度渗透能力的渗透液，由于液体的润湿作用和毛细现象，渗透液便渗入容器(工件)表面开裂的缺陷中，然后清洗表面多余的渗透液，再涂、喷一层吸附力很强的显像剂，利用毛细作用将残留在缺陷中的渗透液吸附至容器(工件)的表面，在白色涂层上便显示缺陷的位置和形状。
放射性活度测定方法放射免疫分析中经抗原抗体反应和BF分离后通过检测放射性量来反映待测物的含量。放射性量的检测需特殊的仪器，放射免疫分析仪实际上就是进行放射性量测定的仪器。测量仪器有两类，即晶体闪烁计数仪主要用于检测γ射线，如IICr等和液体闪烁计数仪主要用于检测β射线，如HPC等。无论是晶体闪烁计数仪还是液体闪烁计数仪都是将射线放射能与闪烁体的作用转换成光脉冲光能，然后用光电倍增管将光脉冲转换成电脉冲电能，电脉冲在单位时间内出现的次数即仪器记录的cmp值反映了发出射线的频率，而电脉冲的电压幅度则反映了射线能量的高低。
计数单位是探测器输出的电脉冲数，单位为cpm计数/分，也可用cps表示。如果知道这个测量系统的效率，还可算出放射源的强度，即dpm衰变/分或dps衰变/秒。闪烁体闪烁体是将核辐射能激发分子转化成可探测闪光的荧光物质。常用的有有机闪烁体无机闪烁体和特殊闪烁体等。光电倍增管光电倍增管的作用是有选择性地把闪烁体发出的极弱闪光的一部分转换成电信号。光电倍增管的基本结构主要包括光电转换电子倍增和电子收集装置三个部件。
在医学检验中，用于体外样品放射性测量的井型闪烁探测装置中的晶体及光电倍增管等是装在一只有盖的铅室中的。由于探测效率和探头相对于样品的几何位置关系十分密切，测量中要特别注意。还要避免样品对探头的污染，一旦造成污染，要及时进行有效的去污处理，以免使仪器本底增高，影响装置性能指标。多道脉冲分析器多道分析器MCA是进行能谱分析的重要仪器，现代的MCA与通用微型计算机有许多共同特性，是现代核探测分析及放射影像装置的重要组成部分。
脉冲高度分析器的基本原理比例放大器甄别器和反符合电路三部分组成了典型脉冲高度分析器的主体。由光电倍增管产生的输出脉冲与γ射线等在NaITl等闪烁体内失去的能量成正比。将此脉冲信号输入放大器进行放大，由于输入脉冲高度与输出脉冲高度是按比例设计的，该放大器称比例放大器。经比例放大的脉冲信号再被送入甄别器。由上限和下限两个甄别器组成，分别让脉冲高度高于下限甄别器预定电压U的信号及高于上限甄别器预定电压U+△U的信号送入反符合电路。
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从而确保除了感兴趣的频率进行测量以为，其它频率都被排除。这个步骤满足条件并确保对信号的带宽进行了限制。有两个因素会导致简单的抗混叠方法复杂化。个也是容易解决的因素是，抗混叠滤波器的滚降(rolloff)速率是有限的。如图6所示，在实际滤波器的通带和截止带之间有一个过渡带。这个过渡带中的频率可能产生混叠。为了避免这些混叠分量，滤波器的截止频率必须低于理论频率上限?s/2。解决这个问题的简单办法是使用过采样(以高于Nyquist采样率的速率进行采样)。使采样频率略高于?max的两倍，也就是截止带实际开始频率的两倍，而不是要测量的频率的两倍。许多VSA的实现都使用保护带以防止显示混叠的频率分量。
FFT计算超出50%?s(相当于?s/2)的频谱分量。保护带大约在?s的40%至50%(或?s/2.56至?s/2)之间并且没有显示，因为它可能被混叠分量破坏。不过当VSA软件进行逆FFT运算时，在保护带中的信号用于提供的时域结果。高滚降率滤波器再结合保护带，会抑制潜在的混叠分量，并将它们衰减到远低于测量前端的底噪。另一个致使混叠(有限的频率分辨率)复杂化的因素解决起来难得多。首先，为宽频扫宽(高采样率)设计的抗混叠滤波器不适用于测量小分辨率带宽，原因有二个:一是需要极大的样本数量(内存分)，二是需要惊人的FFT计算量(长测量时间)。例如，当采样率为10MHz时，一个10Hz分辨率带宽的测量将需要超过100万点的FFT。
也就是需要使用巨大容量的存储器和极长的测量时间。这是不可接受的，因为小分辨率带宽的测量能力是VSA的一大优势。提高频率分辨率的一个方法是减小?s，但代价是降低了FFT的频率上限，也就是终分析仪的带宽。不过，这仍不失为一个好方法，因为它允许你控制测量分辨率和频率范围。当采样率降低时，抗混叠滤波器的截止频率也必须降低，否则就会发生混叠。一种可能的解决方案是对每个扫宽提供一个抗混叠滤波器，或提供一个可选择截止频率的滤波器。使用模拟滤波器实现这种方案的困难很多，而且成本高昂，但是有可能通过DSP以数字形式添加额外的抗混叠滤波器。数字抽取滤波器和重采样算法提供了频率分辨率受限制问题的解决方法。AgilentVSA软件中就使用了这种方法。
数字抽取滤波器和重采样执行必要的操作以允许改变扫宽和分辨率带宽。数字抽取滤波器同时降低采样率并限制信号的带宽(提供混叠)。输入数字滤波器的采样率为?s;输出该滤波器的采样率为?s/n，其中“n”是抽取因子，为整数值。类似的，输入滤波器的带宽为“BW”，输出滤波器的带宽为“BW/n”。许多实现过程执行二进制抽取(采样率按1/2的速度降低)，这意味着采样率按2的整数幂改变，即步进值为1/(2n)(1/1/1/8......)。通过“除以2n”得出的频率扫宽称为基数扫宽。由于减少了DSP操作，通常在基数扫宽上进行的测量比在任意扫宽上进行的测量要快。抽取滤波器允许采样率和扫宽以2的幂次改变。
要获得任意扫宽，采样率必须是无限可调的。这由抽取滤波器之后的重采样或插值滤波器来完成。尽管数字重采样滤波器在降低采样率的同时提供了混叠的，模拟抗混叠滤波器仍然是必要的，因为数字重采样滤波器本身也是一个被采样系统，必须被防止出现混叠。模拟抗混叠滤波器运行于?s上，保护宽频率扫宽上的分析。在模拟滤波器之后的数字滤波器，为较窄的、用户定义的扫宽提供抗混叠能力。当抗混叠涉及带限信号，并使用示波器作为VSA软件前端时，还必须采取额外的措施。下一个限制小分辨率带宽分析的复杂因素来源于FFT算法自身的本质特性;FFT实质上是一个基带转换。这意味着FFT频率范围从0Hz(或DC)开始，一直到某个大频率(?s/2)结束。
在小频段需要被分析的测量情况中，这可能是一个重大限制。例如，如果测量前端的采样率为10MHz，频率范围将从0Hz到5MHz(?s/2)。如果时间样本数量(N)为1024，那么频率分辨率将为9.8kHz(?s/N)。这意味着接近9.8kHz的频率可能无法分辨。如前所述，可以通过改变采样率来控制频率扫宽，但是由于扫描范围的起始频率是DC，所以分辨率仍然受到限制。频率分辨率可以任意提高，但是付出的代价是高频率的降低。这些限制的解决方法是带宽选择分析，又称为“缩放操作”或“缩放模式”。缩放操作使您可以在保持中心频率不变的情况下减小频率扫宽。这点非常有用，因为你可以分析和查看远离0Hz的小频率分量。缩放操作允许你将测量焦点放在测量前端频率范围内的任意频率点处(图7)。
标准考核，中诮考核单位应当提供以下资料《计拭标准考核复在申诮书》原件和电子版各一份；《计狱标准技术报告》原件一份；计批标准器及主要配套设备有效的检定或校准复印件一套开展检定或校准项II的原始记录及相应的模拟检定或校准复印件两套；检定或校准人员资格证明复印件一套；可以证明计从标准具有相应测扯能力的其他技术资料；如采用计址检定规捍或计批校准规范以外的技术规范，应当提供技术规范和相应的证明文件复印件一套-申请计扯标准复查考核，申讷考核单位应当提供以下技术资料。第三章电磁计量器具建标申请书和技术报告编写示例计批标准名称一等直流电阻标准装置计届标准考核号存放地点计扯标准总价值万元计扯标准类别双社会公用口计址授权口部门高口计扯授权口企事业高口计量授权前两次复查时间和方式年月日书面审查双现场考评口书面审查年月日M现场考评测批范围电阻不确定度或准确度等级或大允许误差计标准器名称型号测址范围不确定度或准确度等级或大允许误差制造厂及出厂编号检定周期或复校间隔末次检定或校准日期检定或校准。
注只有申请复查考核时才填写计量标准考核号复查时间和方式。二计址标准的T作原理及其组成直流比较仪测阻桥用来检定标称值为的二等及以下直流电阻器。检定时，选择等电阻器标准，采用电桥比例，从电桥上直接读取被检标准电阻数值，即采用直接测批方法检定勹的二等及以下直流电阻器，公式为被测扯电阻值；标准的电阻值；被测电阻器线圈绕组；标准电阻器线圈绕组。
硉计量器具遠标指南三计扯标准器及主要配套设备计址标准器名称型号测扯范围不确定度或准确度等级或大允许误差制造厂及出厂编号检定或校准机构检定周期或复校间隔一等标准电阻器B一等上海电表厂年主要配套设备全自动直流比较测阻电桥立丰世通年第三章电磁计量器具遠标申请书和技术报告编写示例四计扯标准的主要技术指标。
重复测员的标准偏差均不大千测从不确定度评定中所采用的重复性指标，符合要求。具建标指南标准的稳定性考核选取只标称值为等标准电阻，在装置正常工作情况下，等精度测址次，每次间隔年，上级法定计扯机构检定数据或自我比对数据，结果如下单位:允许变差年变差年变差年变差标准器编号名义值根据以上上级法定计批机构检定数据或自我比对数据，年变化均不大于允许变差，符合稳定性考核要求。
第三章电磁计量器具遠标申潦书和技术报告编写示例九检定或校准结果的测扯不确定度评定测方法按照《直流电阻器》的要求，用一等直流标准电阻器一套只作为标准，型直流比较仪电桥,采用同标称值直接测拭法，从而测得,二等直流电阻的实际值。测拭模型及方差理想的模型根据比较仪电桥原理被测址电阻值标准的电阻值；被测电阻器线；标准电阻器线圈绕组。
实际的测址模型从测扯过程原理出发，并考虑其非理想性，可有由于测证时恒温油槽不是的;另外由于电阻负载系数的变化，也会引起电阻自身温度的变化，由千温度系数的不同导致的电阻们的变化也会引人一定的误差。考虑以上因素的影响，其测批模型为式中电桥的比准确度引起的误差，油槽温度差引入的误差；负载系数引入的误差。
方差将上式中的各项做方差计符，考虑到测址结果的重复性,得到下面对应的合成方差公式集标准不确定度分址评定下面分别计算各个不确定度分批，由于不同的电阻值的原因，这里的不确定度分析和计算都采用的是相对于实际值的相对不确定度，
等直流标准电阻器的扩展不确定度引人的标准不确定度根据上级单位检定，,电阻标准器的扩展不确定度U叫电阻标准器的扩展不确定度电磁计曼器具建标指南由比较仪的测扯误差引人的标准不确定度电桥在测屈电阻时，不尽相同，要作具体分析。
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