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也可更换高精度电子压力传感器等等。网络分析仪是一种功能强大的仪器，正确使用时，可以达到极高的精度。它的应用也十分广泛，在很多行业都不可或缺，尤其在测量无线射频(RF)元件和设备的线性特性方面非常有用。现代网络分析仪还可以应用于更具体的场合，例如，信号完整性和材料的测量。随着业界款PXI网络分析仪的推出，你完全可以摆脱传统网络分析仪的高成本和大占地面积的，轻松地将网络分析仪应用于设计验证和产线测试。你可以使用所示的矢量网络分析仪测量设备的幅度，相位和阻抗。由于网络分析仪是一种封闭的激励-响应系统，你可以在测量RF特性时实现绝佳的精度。当然，充分理解网络分析仪的基本原理，对于你大限度的受益于网络分析仪非常重要。
在过去的十年中，矢量网络分析仪由于其较低的成本和的制造技术，流行度超过了标量网络分析仪。虽然网络分析理论已经存在了数十年，但是直到20世纪80年代早期台现代独立台式分析仪才诞生。在此之前，网络分析仪身形庞大复杂，由众多仪器和外部器件组合而成，且功能受限。NIPXIe-5630的推出标志着网络分析仪发展的又一个里程碑，它将矢量网络分析功能成功地赋予了灵活，软件定义的PXI模块化仪器平台。通常我们需要大量的测量实践，才能实现的幅值和相位参数测量，避免重大错误。由于射频仪器测量的不确定性，小的错误很可能会被忽略不计。而网络分析仪作为一种精密的仪器能够测量出极小的错误。网络是一个被高频率使用的术语。
有很多种现代的定义。就网络分析而言，网络指一组内部相互关联的电子元器件。网络分析仪的功能之一就是量化两个射频元件间的阻抗不匹配，大限度地提高功率效率和信号的完整性。每当射频信号由一个元件进入另一个时，总会有一部分信号被反射，而另一部分被传输，类似于所示。这就好比光源发出的光射向某种光学器件，例如透镜。其中，透镜就类似于一个电子网络。根据透镜的属性，一部分光将反射回光源，而另一部分光被传输过去。根据能量守恒定律，被反射的信号和传输信号的能量总和等于原信号或入射信号的能量。在这个例子中，由于热量产生的损耗通常是微不足道的，所以忽略不计。通过反射系数和传输系数，你可以更深入地了解被测器件(DUT)的性能。回顾光的类比，如果一面镜子，你会希望得到高反射系数。如果DUT是一个镜头，你会希望得到高传输系数。而太阳镜可能同时具有反射和透射特性。电子网络的测量方式与测量光器件的方式类似。网络分析仪产生一个正弦信号，通常是一个扫频信号。响应时，会传输并且反射入射信号。传输和反射信号的强度通常随着入射信号的频率发生变化。对于入射信号的响应是性能以及系统特性阻抗不连续性的表征。例如，带通滤波器的带外具有很高的反射系数，带内则具有较高的传输系数。如果DUT略微偏离特性阻抗则会造成阻抗失配，产生额外的非期望响应信号。我们的目标是建立一个的测量方法，测量响应，同时大限度的减少或不确定性。反射系数(G)和传输系数(T)分别对应入射信号中反射信号和传输信号所占的比例。
示意了这两个向量。现代网络分析基于散射参数或S-参数扩充了这种思想。参数是一种复杂的向量，它们代表了两个射频信号的比值。S-参数包含幅值和相位，在笛卡尔形式下表现为实和虚。S-参数用S坐标系表示，X代表DUT被测量的输出端，代表入射RF信号激励的DUT输入端。图4示意了一个简单的双端口器件，它可以表征为射频滤波器，衰减器或放大器。S11定义为端口1反射的能量占端口1入射信号的比例，S21定义为传输到DUT端口2的能量占端口1入射信号的比例。参数S11和S21为前向S-参数，这是因为入射信号来自端口1的射频源。对于从端口2入射信号，S22为端口2反射的能量占端口2入射信号的比例，S12为传输到DUT端口1的能量占端口2入射信号的比例。
它们都是反向S-参数。矢量网络分析仪作为射频微波元器件性能评价的一个基本工具，有着广泛的应用，下面我们通过一个滤波器的测试过程来看一看矢量网络分析仪E5063A是如何测试一个射频微波元器件的。设置矢量网络分析仪E5063A的测试参数：起始和截至频率，中频带宽和测试点数，然后执行校准移除系统误差，这里我们使用了既快又准的E-cal校准。在校准前请观察E-Cal的LED指示灯是否已经变为绿色，绿色代表ECal已经准备完毕可以开始校准（如果您使用的是N755x系列电子校准件，它启动后即可开始校准，无需等待。另外一个必须注意的是要检查网分的源输出功率，避免损坏电子校准件或者让电子校准件过载。我们将源输出功率调整为-15dBm。
激光测厚仪由上、下两个对射的激光测头组成，其基本测量原理如图1“测量原理图”所示。图中激光测头1和激光测头2以固定间距A相对布置，工作时激光测头1发射一束激光照射被测物的下表面，下表面光斑的漫反射光再返回到激光测头1内的CMOS或CCD上，通过对CMOS或CCD芯片上光斑的位置分析和计算，可以得到激光测头1到被测物下表面的实际距离B1；同理可以得到激光测头2到被测物上表面的距离B2。用两个测头之间的间距A减去两个测头到被测物上下表面的距离B1、B2即可得到被测物的厚度H。C形架是测量单元的支撑结构件，在C形架的下方设置有下方传感器和可以在导套内上下滑动的下压轮支杆，支杆上设置下压轮。当没有板材通过时下压轮用弹簧顶起至极限高度，板材通过时下压轮被板材压下，压下的距离通过下压轮支杆传递至下方传感器。上压轮及上方传感器的工作过程与下压轮相同，通过对上、下两个传感器移动距离的计算，即可得到板材的厚度尺寸。
由于测厚仪测量的板材厚度尺寸范围较大，为了保证板材顺利通过两个压轮中间而不会撞坏测厚仪，上压轮设置为可以自动高度的结构。方法是通过步进电机驱动丝杠使与丝母连接的上支撑臂或下降，进而带动上支撑臂前端导套内的上压轮支杆上升或下降。上压轮支杆上升或下降的距离也将传递到上方传感器内，所以上压轮上升或下降后不需要对测量单元进行校准即可进行测量。数显表因功能不同，可以进行若干细分，比如：显示控制仪、巡检仪、调节器、手操器、流量积算仪等等，本贴以4-20mA电流输出为例说说数显表变送输出和控制输出的区别。
数显表变送输出指的是测量值对应的模拟量输出。以4-20mA为例，数显表变送输出下限值(4mA对应的值)和变送输出上限值(20mA对应的值)只要设定在测量值输入信号的量程范围内(即输入信号量程下限≤变送输出下限值、变送输出上限值≤输入信号量程上限)，数显表就可以实现测量值的变送输出。数显表变送输出的作用在于将实时测量值以电流或电压形式远传至其他仪表或设备使用，数显表变送输出与测量值之间为一一对应关系。数显表控制输出特指调节器或手动操作器的控制运算结果的输出，其他功能的数显表没有控制输出，以4-20mA为例，除PID调节器或手操器外的数显表的4-20mA输出只能称为变送输出。控制输出是测量值经过PID调节器或手操器内部控制模型演算后的输出结果，用于驱动执行器调整被测量介质特定参数至预期结果，通常控制输出和测量值之间不存在一一对应关系。
它可以同时提供时域、频域、调制域和码域的测量分析。集这些能力于一身的仪器更有价值，它可改善测量质量。VSA的FFT分析使你可以轻松和准确地查看时域和频域数据。DSP提供了矢量调制分析，其中包括模拟和数字调制分析。模拟解调算法可提供与调制分析仪类似的AM、FM和PM解调结果，使您可以看到幅度、频率和相位随时间变化的曲线图。数字解调算法可适用于许多数字通信标准(例如GSM、cdma2000?、WiMAXTM、LTE等)的广泛的测量，并获得许多有用的测量显示和信号质量数据。很明显VSA提供了许多重要的优势，当配合使用合适的前端时，还可以提供更多、更大的优势。例如，当VSA与传统的模拟扫描调谐分析仪结合使用时。
可提供更高的频率覆盖率和更大的动态范围测量能力;与示波器结合使用时，可提供宽带分析;与逻辑分析仪结合使用时，可探测无线系统中的FPGA和其它数字基带模块。如前所述，VSA本质上是一个数字系统，它使用DSP进行FFT频谱分析，使用解调算法进行矢量调制分析。FFT是一种数学算法，它对时间采样数据提供时域－频域的转换。模拟信号必须在时域中被数字化，再执行FFT算法计算出频谱。从概念上说，VSA的实施是非常简单直接的:捕获数字化的输入信号，再计算测量结果。参见图3。不过在实际中，必须考虑许多因素，才能获得有意义和的测量结果。如果你熟悉FFT分析，就知道FFT算法针对所处理的信号有几点假设条件。算法不校验对于所给输入这些假设是否成立。
这就有可能产生无效的结果，除非用户或仪器可以验证这些假设。为一般的VSA系统方框图。在DSP过程中，不同的环节可能使用不同的功能。显示了安捷伦一般使用的技术图。1.包括频率转换的信号调整。基于所使用的前端硬件，可能需要和/或可以使用不同的信号调整步骤。6.FFT分析(对于矢量调制，测量过程的个阶段称为信号调整。这个阶段包括几个重要的功能，对信号进行调整和优化，以便于模拟-数字转换和FFT分析。个功能是AC和DC耦合。如果您需要移除测量装置中无用的DC偏置，就必须使用这一项。接下来信号被放大或衰减，以达到混频器输入的佳信号电平。混频器阶段提供信号频率的转换或射频到中频的下变频，并将信号后混频为中频。
这一操作与扫描调谐分析中的超外差功能相同，将FFT分析能力扩展到微波频段。实际上，要获得后的中频频率，可能需要经过多个下变频阶段。有些信号分析仪提供外IF输入能力;你可以通过提供自己的IF，延展VSA的频率上限范围，从而与自己提供的相匹配。信号调整过程的后阶段是信号混叠，它对于采样系统和FFT分析极为重要。抗混叠滤波执行这一功能。如果VSA测量没有对混叠做出足够的，那么它可能会显示不属于原始信号的频率分量。采样定律告诉我们，如果信号采样速率大于信号中高频率分量的两倍，被采样的信号就可以被准确重建。低的可接受的采样率称为奈奎斯特(Nyquist)采样率。如果违反了采样定律，就会得到“混叠的”错误分量。
因此，为了所给大频率出现混叠结果，在1/2采样率以上不能有太大的信号能量。图5显示了一组采样点，适合两种不同的波形。频率较高的波形违反了采样定律。除非使用抗混叠滤波器，否则这两个频率在进行数字处理时将会混淆。为了混叠，必须满足两个条件：进入数字转换器采样器的输入信号必须是带限的。换句话说，必须存在一个大频率，没有任何频率分量高于这个频率。必须以符合采样定律的速率对输入信号进行采样。解决混叠问题的方案看起来很简单。首先选择前端硬件将要测量的大频率，然后确保采样频率是该大频率的两倍。这个步骤满足了条件并确保SA软件能够对感兴趣的频率进行分析。接下来插入低通滤波器抗混叠滤波器，以去除高于的所有频率。
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