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微波阻抗标准是指对应于这些物理量的实物标准，其中包括特性阻抗标准和反射系数标准。波导和同轴系统中的特性阻抗标准分别是一段精密加工并具有标准截面尺寸、法兰定位符合标准的标准波导和无介质支撑的刚性空气介质标准同轴线，其特性阻抗可由几何尺寸计算得到，并由精密机械加工所保证。反射系数标准即为标准负载，它能在给定波导或同轴线中产生确定的反射系数。各种形式的波导或同轴标准负载在微波阻抗计量中被用作传递标准或工作标准。标准负载按反射系数或电压驻波比的大小分为无反射标准负载、失配标准负载和大反射标准负载；按结构可分为固定和滑动两种形式，其中后者多制成小反射型。在这些标准中，通常由一级特性阻抗标准和电铸成形的复反射系数为1的一级反射系数标准（即1/4波长短路器）构成微波阻抗的高标准，后者的反射系数的模值可根据几何尺寸和材料的电导率计算，也可用苏州仪器校准量热计法或测Q值的方法经实验测定。
微波阻抗测量中两个可直接测量的参量是驻波参量和反射参量。（2）开槽线。为了实现微波阻抗的量值传递和精密测试，普遍采用各种波导和同轴精密开槽线。精密开槽线技术首先要尽可能提高机械加工精度，以提高探针移动的平稳度，减小开槽线的剩余驻波比；其次需要提高信号源的幅度、频率稳定度和指示器的分辨力；此外还需要采用一些提高计量准确度的措施，如针对不同的电压驻波比选择适当的开槽线，并采用1/4波长校准技术等。调配反射计。调配反射计技术是目前可以获得测量反射系数的小不确定度的方法。它主要用于波导系统中，适用频率范围较高，缺点是测量费时费力，且只能点频应用。调配反射计的原理如图11.42所示，它是由耦合于反射波的一个高方向性定向耦合器以及两个调配器Tx和Ty组成。
仔细调配Tx和Ty可获得理想响应，使定向耦合器旁臂的输出幅度与接在标准波导段上的待测负载的反射系数模值成正比，从而能够计算出反射系数模值。仪器校准矢量网络分析仪。矢量网络分析仪包括四端口网络分析仪、多态反射计、六端口网络分析仪等，可以测量散射参量的模值和相位角。四端口网络分析仪获取相位信息的方法是采用两个检波器，来将参考信号和被测信号从高频或微波频率变换为低频信号，在低频进行模值和相角测量；六端口反射计和六端口网络分析仪则采用四个幅度检波器在直流上进行测量。经典微波测量技术要求设计制造诸如精密开槽线、高方向性定向耦合器、无反射负载等理想微波器件，并采取调配措施或其他补偿措施来器件的不完善特性，以获得理想测量系统，从而给出小的测量不确定度。
但经典测量技术早已无法满足近代微波测量的需求。例如，20世纪60年代中期研制的脉冲压缩和相控阵雷达，要求测量表征微波器件的网络参量。当时一台全固态相控阵雷达的发射接收单元采用了1684个微波集成电路组件，要求对每个组件，在3个不同电平上，测量3个频率的性能指标，而要获得全部指标，需要进行数万次测量，经典测量方法对此显然无能为力。因此，在20世纪60年代，出现了采用幅相检测技术的微波自动网络分析仪（ANA）。ANA基本上采用某种频率转移方法，将测量转换在低频上进行。这些频率转移方法包括单边带系统、超外差系统、调制副载波系统、矢量抵消（平衡）系统和零差系统等。化学计量是研究化学计量领域内计量单位量值统一和测量结果准确可靠的计量学分支，是研究化学测量溯源性的一个学科。
化学计量可分为物理化学计量和分析化学计量。物理化学计量主要研究与物质的物理性质和物理化学性质有关的特性量的计量问题；分析化学计量着重研究与物质组成有关的化学成分计量问题。相比于物理计量，化学计量具有如下特点：（1）从测量过程来看，化学测量多为破坏性测量，需要由样本推断总体，抽取的样本必须具有代表性；样品往往要经过溶解、消化、分离、富集等处理，容易发生沾污、损失并引入明显的系统误差；在多数情况下，化学测量是相对测量，通过测量光学、电学、温度等物理量间接确定化学量，容易引入基体效应造成的系统误差。测量仪器多为大中型仪器，结构复杂，昆山仪器校准可进行多参数的同时测量；（2）从测量标准看，化学测量的标准具有多样性，因物质的形态、结构、成分、含量、存在条件而异。
从而确保除了感兴趣的频率进行测量以为，其它频率都被排除。这个步骤满足条件并确保对信号的带宽进行了限制。有两个因素会导致简单的抗混叠方法复杂化。个也是容易解决的因素是，抗混叠滤波器的滚降(rolloff)速率是有限的。如图6所示，在实际滤波器的通带和截止带之间有一个过渡带。这个过渡带中的频率可能产生混叠。为了避免这些混叠分量，滤波器的截止频率必须低于理论频率上限?s/2。解决这个问题的简单办法是使用过采样(以高于Nyquist采样率的速率进行采样)。使采样频率略高于?max的两倍，也就是截止带实际开始频率的两倍，而不是要测量的频率的两倍。许多VSA的实现都使用保护带以防止显示混叠的频率分量。
FFT计算超出50%?s(相当于?s/2)的频谱分量。保护带大约在?s的40%至50%(或?s/2.56至?s/2)之间并且没有显示，因为它可能被混叠分量破坏。不过当VSA软件进行逆FFT运算时，在保护带中的信号用于提供的时域结果。高滚降率滤波器再结合保护带，会抑制潜在的混叠分量，并将它们衰减到远低于测量前端的底噪。另一个致使混叠(有限的频率分辨率)复杂化的因素解决起来难得多。首先，为宽频扫宽(高采样率)设计的抗混叠滤波器不适用于测量小分辨率带宽，原因有二个:一是需要极大的样本数量(内存分)，二是需要惊人的FFT计算量(长测量时间)。例如，当采样率为10MHz时，一个10Hz分辨率带宽的测量将需要超过100万点的FFT。
也就是需要使用巨大容量的存储器和极长的测量时间。这是不可接受的，因为小分辨率带宽的测量能力是VSA的一大优势。提高频率分辨率的一个方法是减小?s，但代价是降低了FFT的频率上限，也就是终分析仪的带宽。不过，这仍不失为一个好方法，因为它允许你控制测量分辨率和频率范围。当采样率降低时，抗混叠滤波器的截止频率也必须降低，否则就会发生混叠。一种可能的解决方案是对每个扫宽提供一个抗混叠滤波器，或提供一个可选择截止频率的滤波器。使用模拟滤波器实现这种方案的困难很多，而且成本高昂，但是有可能通过DSP以数字形式添加额外的抗混叠滤波器。数字抽取滤波器和重采样算法提供了频率分辨率受限制问题的解决方法。AgilentVSA软件中就使用了这种方法。
数字抽取滤波器和重采样执行必要的操作以允许改变扫宽和分辨率带宽。数字抽取滤波器同时降低采样率并限制信号的带宽(提供混叠)。输入数字滤波器的采样率为?s;输出该滤波器的采样率为?s/n，其中“n”是抽取因子，为整数值。类似的，输入滤波器的带宽为“BW”，输出滤波器的带宽为“BW/n”。许多实现过程执行二进制抽取(采样率按1/2的速度降低)，这意味着采样率按2的整数幂改变，即步进值为1/(2n)(1/1/1/8......)。通过“除以2n”得出的频率扫宽称为基数扫宽。由于减少了DSP操作，通常在基数扫宽上进行的测量比在任意扫宽上进行的测量要快。抽取滤波器允许采样率和扫宽以2的幂次改变。
要获得任意扫宽，采样率必须是无限可调的。这由抽取滤波器之后的重采样或插值滤波器来完成。尽管数字重采样滤波器在降低采样率的同时提供了混叠的，模拟抗混叠滤波器仍然是必要的，因为数字重采样滤波器本身也是一个被采样系统，必须被防止出现混叠。模拟抗混叠滤波器运行于?s上，保护宽频率扫宽上的分析。在模拟滤波器之后的数字滤波器，为较窄的、用户定义的扫宽提供抗混叠能力。当抗混叠涉及带限信号，并使用示波器作为VSA软件前端时，还必须采取额外的措施。下一个限制小分辨率带宽分析的复杂因素来源于FFT算法自身的本质特性;FFT实质上是一个基带转换。这意味着FFT频率范围从0Hz(或DC)开始，一直到某个大频率(?s/2)结束。
在小频段需要被分析的测量情况中，这可能是一个重大限制。例如，如果测量前端的采样率为10MHz，频率范围将从0Hz到5MHz(?s/2)。如果时间样本数量(N)为1024，那么频率分辨率将为9.8kHz(?s/N)。这意味着接近9.8kHz的频率可能无法分辨。如前所述，可以通过改变采样率来控制频率扫宽，但是由于扫描范围的起始频率是DC，所以分辨率仍然受到限制。频率分辨率可以任意提高，但是付出的代价是高频率的降低。这些限制的解决方法是带宽选择分析，又称为“缩放操作”或“缩放模式”。缩放操作使您可以在保持中心频率不变的情况下减小频率扫宽。这点非常有用，因为你可以分析和查看远离0Hz的小频率分量。缩放操作允许你将测量焦点放在测量前端频率范围内的任意频率点处(图7)。
面对显示屏一手握尺身，另一手捏住尺框外量爪前后摇动，感觉间隙较小为好；量面错位：使两外量面接触，手指模接触处两边，感觉错位越小越好（极限0.1mm）；推零位：一手推尺框使两外量面接触并保持一定推力（等于测量时推力），同时用另一手清零（此为正确清零方式），然后再增加推力（比测量时推力略大），观察零位变化，只许出现负号，不应有数字改变。示值误差：显示值与被测量真值之差。分为以下三项细分误差：电子组件本身的误差。检验方法：在外量面内侧（阿贝误差小）用一组间隔0.5mm的量块，例如1、1.5、2、2.5、3、3.5、4、4.5、5mm共九个量块，测量数显卡尺示值误差，其大误差可看做为细分误差，一般不应超过0.01mm。
外测量示值误差：用步距规或尺寸分布适宜的一组量块（不少于5件）在外量面内侧（阿贝误差小，在量面外侧检外量面平行度）检验其外测量示值误差，其大误差应不超过标准规定的极限（与测量范围有关，0-100mm为±0.02mm；＞100-300mm为±0.03mm）； 内测量示值误差：用小环规（直径3-4mm）和步距规相结合检验内测量示值误差，这是国际通用检验方法。但我国多数卡尺（数显卡尺、带表卡尺、或游标卡尺）生产厂家和用户，并未认真检验内测量示值误差，只检验10mm处内量爪尺寸或这一点的示值误差，以至多数卡尺内测量示值误差较大（与国外卡尺相比，差距较大）。 外量面平行度：先用10mm以下的量块或针规，分别在外量面的内、外两处用相同测力测量，两处显示值相差不超过规定值（此规定值与量面长度有关，普通测量范围0-300mm的数显卡尺，该规定值为0.02mm）。
后用刀口直尺找出尺身基面弯曲大处（拐点），在离该处前后各约20mm处选定量块（或组合尺寸）并侧立放置，分别在外量面的内、外两处测量，两处读数相差亦不应超过上述规定值。 侧向间隙和尺身基面直线度对外量面平行度影响较大。 内量面平行度：在卡尺外量面间夹住10mm量块并锁紧螺钉，然后将卡尺平放在工作台边使内量爪朝向检验者，用测力不大于6牛顿的千分尺（好用杠杆千分尺，因其它千分尺测力可能达到9牛顿）测量其内量面平行度。 目力观测：使外量面接触，手握卡尺面对显视屏，迎光用单目正视观察两内量面间应无间隙；稍微倾斜再观察，可稍见透光，其间隙应均匀（不超过0.01mm）。此方法简单易行，如有疑义，改用杠杆千分尺检验。
三.定期进行保养，如工作导轨工作面应上油，电器设备应定期通电等，防锈、防霉变措施正确。东莞仪器仪表检测服务中心找博罗质量全搞定()对度要求高，运，量值易变和丈量设备，可酌情缩短周期;对运不、功能安稳，也可酌情延伸周期，但多不得超越规则周期倍，长不超越年。()对计量数据度有要求，但运不，且功能安稳和丈量设备，在不影响丈量度前提下，可依据运状况断定合理周期，但不得超越规则周期倍，长不超越年。()对大设备上装备，并且拆装有困难或拆装可能影响设备功能和丈量设备，可随设备检修周期同步组织检定(校验)，但平常加强保护和数据。()对计量数据度有要求，但因特别因无法进行检定/校准(校验)，且功能安稳和丈量设备，实施检定/校准(校验)，坏筛选。
()对所测数据无严格要求和丈量设备，能够延伸周期到规则周期倍，长不超越年。()对延伸检定周期丈量设备，在周期内至少组织次抽检。四.除仪器设备的专业维修人员外，任何人不得任意拆装、调整，有封印的部位的封记不得破坏，以免破坏仪器设备的性能。要增加一列“溯源结果确认指标”各类湿度计、温湿度传感器、干湿表、湿度变送器、湿度记录仪、湿度发生器等。五.仪器设备使用结束，对有可能影响仪器设备性能的部位如手接触非油漆部位等进行必要的保养，切断工作电源，做好交班记录。轻工类仪器校准：锐利尖点测试仪、锐利边缘测试仪、奶嘴测试仪、小物件测试筒、跌落地板、挠曲测试器、织物厚度仪、织物平磨仪、织物缩水率测试仪、耐水洗色牢度仪、摩擦染*牢度仪、汗渍色牢度仪、灼热丝试验仪、AKRON耐摩试验机、紫外线耐候试验机等。
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